測(cè)厚儀電磁電渦流測(cè)厚原理 對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。 覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工 覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。 X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。 隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的 測(cè)厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用*廣泛的測(cè)厚儀器。 采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。
測(cè)厚儀是用來測(cè)量材料以及物體厚度的儀表。按照測(cè)試材料和測(cè)試方法及有的是原理來看可以將判定測(cè)厚儀的種類：
一、首先根據(jù)材料材質(zhì)分如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等測(cè)厚儀
紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量
薄膜測(cè)厚儀：用來測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高
超聲波測(cè)厚儀：適合測(cè)量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度。
X射線測(cè)厚儀：適用生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。
涂層測(cè)厚儀：F型探頭可直接測(cè)量導(dǎo)磁材料（如鋼鐵、鎳）表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻、等）。可應(yīng)用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測(cè)量，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量。
二、其次按照測(cè)試方法分為：
1、接觸式測(cè)厚儀
按接觸材料的大小來分，有點(diǎn)觸式測(cè)厚儀，和面觸式測(cè)厚儀
2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又分為：激光測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、白光干涉測(cè)厚儀、電解式測(cè)厚儀
三、按照測(cè)試原理的不同，測(cè)厚儀的種類如下：
磁性測(cè)厚法：導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測(cè)量精度高。
渦流測(cè)厚法：利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)，適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。
超聲波測(cè)厚法：適多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上兩種方法都無法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高。
電解測(cè)厚法：不屬于無損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測(cè)量起來比較其他幾種麻煩。
放射測(cè)厚法：此處儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬RMB以上），適用于一些特殊場(chǎng)合。
激光測(cè)厚儀：通過采用自主激光檢測(cè)技術(shù)及可靠的防護(hù)措施研制而成的，滿足熱軋板坯厚度檢測(cè)的需求。
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